• 通過更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品
  GUI上顯示更換樣品的操作步驟?？梢员苊庖蛉藶榈恼`操作而導(dǎo)致樣品污染或損壞。即使是難以檢測高度的凹凸不平的樣品或者是超大樣品，也能夠輕松更換。

• 樣品交換倉*
  選配樣品交換倉，可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品，大大提高了工作效率

• 具備樣品臺(tái)移動(dòng)限制解除功能,提高了自由度*
  SU3800 / SU3900配置了樣品臺(tái)自由模式，開放了樣品臺(tái)移動(dòng)的自由度。操作人員可自行判斷，自由移動(dòng)樣品臺(tái)。
  ※選擇樣品臺(tái)自由模式時(shí)，請同時(shí)選配紅外CCD探測器。

• 紅外CCD探測器*，提高了樣品臺(tái)移動(dòng)的安全性
  紅外CCD探測器是用于監(jiān)控樣品倉內(nèi)部的裝置。通過使用紅外線攝像機(jī)，可以在觀察SEM圖像的同時(shí)監(jiān)視樣品倉內(nèi)部情況。為了獲得更詳細(xì)的位置，放大CCD圖像，并且移動(dòng)觀察位置。

*配件

• 與GUI聯(lián)合，可配備樣品倉室導(dǎo)航相機(jī)
  與GUI聯(lián)合的SEM MAP，正是因?yàn)椴捎昧藰悠穫}室導(dǎo)航相機(jī)，才得以實(shí)現(xiàn)廣角相機(jī)導(dǎo)航功能*。在SEM MAP上觀察目標(biāo)位置，可以順利地移動(dòng)到任意位置上。使用大視野相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像，通過自由放大或縮小圖像，可以將大視野的彩色圖像切換到高倍率的SEM圖像。

*配件

• 覆蓋整個(gè)可觀察區(qū)域
  相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)通過圖像拼接功能可以實(shí)現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察。觀察區(qū)域?yàn)橹睆?30mm（SU3800）/ 直徑200mm（SU3900），并且可以與樣品臺(tái)R一起聯(lián)動(dòng)，移動(dòng)到大型樣品的最大觀察區(qū)域。

• 支持360度旋轉(zhuǎn)
  SEM MAP操作界面可直觀的顯示樣品與探測器的位置關(guān)系，因此在觀察高度差大的樣品時(shí)，可根據(jù)需求旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)或電子束來獲得最佳的觀察分析位置，避免陰影效應(yīng)造成的影響。

搭載了簡約UI，簡單操作，如同觸屏般直觀。

• 從移動(dòng)樣品臺(tái)到樣品觀察，輕輕點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可實(shí)現(xiàn)

• 也可觸屏操作

• 主窗口為1280x960像素的大窗口

• 可以切換顯示模式，并且同時(shí)顯示/拍攝兩種不同的信號(hào)

• 自動(dòng)調(diào)整算法經(jīng)改良后，等待時(shí)間減少至以往的1/3以下（※S-3700N比例）
  樣品安裝完成后，通過自動(dòng)光路調(diào)整及各種自動(dòng)功能調(diào)整圖像，隨后可立即獲得樣品圖像。高度自動(dòng)化功能采用全新設(shè)計(jì)的演算程序，在執(zhí)行圖像自動(dòng)調(diào)整功能時(shí)，等待時(shí)間縮短到以往的1/ 3以下。

• 采用了新的算法，提高了自動(dòng)聚焦精度
  　全新升級(jí)的自動(dòng)聚焦調(diào)整功能，即使是以往難以調(diào)整的光滑樣品，也能夠輕松得到良好的圖像。

• 搭載Intelligent Filament Technology（IFT）
  自動(dòng)監(jiān)視燈絲的狀態(tài)，自動(dòng)控制使其一直處于最佳性能的狀態(tài)。
  搭載顯示燈絲更換時(shí)間的顯示屏。
  通過該功能，使得原來難以對應(yīng)的長時(shí)間連續(xù)觀察以及數(shù)據(jù)分析等大范圍分析均可以安心實(shí)現(xiàn)。

Multi Zigzag可以自動(dòng)獲取連續(xù)的視野。可以在不同的視野中拍攝多張高倍率圖像，并使用Viewer功能拼接拍攝的圖像，創(chuàng)建大視野圖像。

*配件

• Report Creator，可利用獲得的數(shù)據(jù)批量生成數(shù)據(jù)報(bào)告
  在Report Creator中，可以將SEM圖像，EDS數(shù)據(jù)和CCD相機(jī)圖像等采集的圖像統(tǒng)一整合，生成報(bào)告。創(chuàng)建的報(bào)告可保存為Microsoft Office®格式。保存的文件可通過Microsoft Office®進(jìn)行編輯。

• 搭載高靈敏度UVD*，支持CL觀察
  SU3800 / SU3900配備了高靈敏度低真空探測器UVD。除了樣品表面的凹凸圖像之外，還可以通過檢測電子束照射樣品而產(chǎn)生的陰極熒光，來獲取CL信息。

• 高靈敏度半導(dǎo)體式背散射電子探測器，切換成分/凹凸等多種圖像。

SU3900標(biāo)配多功能超大樣品倉，可應(yīng)對大型樣品的觀察。

SU3800/SU3900全新研發(fā)的SEM/EDS一體化功能，通過SEM操作界面即可完成測試位置確定、條件設(shè)置、樣品分析以及生成報(bào)告等一系列操作。通過SEM的全面控制，可以提高測試效率，減輕了操作人員的負(fù)擔(dān)。

Hitachi Map 3D可對SU3800/SU3900的5分割背散射電子探測器當(dāng)中的4個(gè)不同方向的SEM信號(hào)進(jìn)行演算分析，生成三維圖像。支持2點(diǎn)間高度、體積和簡易表面粗糙度（面粗糙度、線粗糙度）測量?？梢淮涡越邮账膫€(gè)不同方向的信號(hào)，因此，無需傾斜樣品臺(tái)或合成圖像。

SU3800 / SU3900搭載了IPI，可以將SEM圖像傳輸?shù)接擅绹鳰edia Cybernetics公司開發(fā)的圖像處理軟件Image Pro。只需單擊一下，即可將數(shù)據(jù)從SEM傳輸?shù)綀D像測量軟件。

礦物的觀察分析案列

顯示了鋯石晶體在相同視野下的觀察結(jié)果。在BSE圖像中很難看清鉻濃度的緩和偏差。但是,在CL圖像中可以確認(rèn)到暗 色區(qū)域是對應(yīng)于錯(cuò)濃度較高的區(qū)域。